磁気力顕微鏡
磁気力顕微鏡（じきりょくけんびきょう、Magnetic Force Microscopy;MFM）とは、プローブ顕微鏡の一種であり、表面の微小磁区を測定する事ができる顕微鏡である。
特徴
磁気力顕微鏡が、他の走査型プローブ顕微鏡と異なる点は、カンチレバーにパーマロイやコバルト系の磁性材料を蒸着した物を用いる点にある。材料表面からの漏洩磁束を測定するする事は、試料表面付近では原子間力の影響が大きくなるためにプローブ顕微鏡の中でも非常に難しい部類に属している。漏洩磁束の検出感度は、プローブのQ値や曲率半径などに依存している。現在は、JS(Just On surface)-MFMなどの分解能10 nm前後の物が最高感度とされる。
| この項目「磁気力顕微鏡」は、自然科学に関連した書きかけの項目です。加筆・訂正などをして下さる協力者を求めています。 |